A. 仪器介绍

FYFS-400X系列低本底α/β测量仪是湖北方圆环保科技有限公司自主研发的新一代塑料双闪烁体法测量α和β放射性的反符合、低本底α/β测量系统。具备单通道，双通道，四通道，六通道，八通道五种型号可选

本系列仪器荣获多项自主知识产权及资质奖项

¥一种分体式二合一送样装置（专利号：200920228929.4）

¥低本底α/β测量仪控制装置（专利号：201210462678.2/201220606613.6)

¥α/β测量仪控制系统V1.0（软件著作权号：2009SR05341.7)

¥一种低本底α/β测量仪屏蔽铅室（专利号ZL20132073441.0 )

¥一种闪烁体探测器专利证书（证号：ZL.201320737655.8)

¥低本底α/β测量仪分析软件V1.0（软件著作权号：2013SR037957)

¥武汉市自主创新产品

¥武汉市创新基金项目

¥国家创新基金项目产品

¥中国科学仪器仪表自主创新银奖

¥制造计量器具许可证：鄂制00000136号

¥辐射安全许可证：鄂环辐证A【0099】

¥放射源豁免管理批复文件：鄂环函［2011]668号

¥放射源豁免管理批复文件获环保部备案

（查询网址：http://www.zhb.gov.cn/gkml/hbb/bgg/201603/t20160315_332882. htm）

B. 功能特点

探测器

1、 主探测器闪烁体采用HND-DS2型低本底α/β    4、探测器采用高频通信级别SMB同轴接口，高频

闪烁体，不怕污染，表面可擦洗，经久耐用                 通过性强，屏蔽效果好，更好保留原始信号信息

2、反符合探测器闪烁体采用HND-DS401型闪烁    5、仪器效率高，本底低，串道比低，长期稳定性好，

体，反符合效率大于99%，通过反符                     无需耗材

合电路降低本底                                                        6、提供不同规格的探测器及样品盘供用户选

3、探测器采用紧凑型结构，休积小，性能好           择，适用不同的测试需求

控制器

1、 仪器采用模块化设计，标准插道式控制器，    4、高压通过计算机调节控制，调节精度0.3V

方便自由组合                                                          5、实际高压均可实时监测，实现闭环控制高压，

2、专利技术：采用高速高性能同步采集控制器，   稳定

真正实现所有通道完全独主同步采集                      6、仪器采用RS-232或USB连接计算机，软件实

3、阈值均通过计算机调节，调节精度0.01v            现全程控制

铅室

1、 分体式全新上层铅室，结构紧凑，更小体积，  3、可拆卸中间层，安装拆卸独立，方便，提供单

屏蔽效果更好                                                           通道，双通道，四通道及六通道送样抽屉

2、一体化下层铅室，重心下移，安全可靠              4、低本底（对α＜8cp6000s，对β<230cp6000s）

控制软件

1、 方圆低本底α/β测量仪分析软件V1.0（软件         8、支持工作源测量，标准源测量，本底测量，水

著作权）                                                                 样品测量，一般样品测量和生物样品测量等六种测量方式

2、纯中文界面、鼠标操作、自动计算             

3、全面的仪器控制，包括高压控制，阈值控制，    9、工作源测量中自动计算平均值，效率，效率比，

采样控制，通信控制                                                 标准误差，相对误差和稳定性等

4、全面的仪器监测，包括通信中断监测，高压       10、样品测量中自动计算平均值，活度浓度，标

信息监测                                                                    准误差，探测限和相对误差等

5、专利技术：支持所有通道的独立分步送样，可暂 11、打印支持分组打印，支持打印预览，打

停采集，可先后采集，多通道独立控制，独立运行      印前可预览打印数据，打印界面

6、支持双击采样保存数据打开软件，并调入当前    12、数据自动保存，并自动保存测量结果和测

数据和阈值信息                                                        量信息

7、支持半衰期活度校正                                           13、24h内，本底计数率变化应在平均计数率

                                                                                  ±δ范围内，其中δ为本底计数的标准误差

E.应用领域