SE-1000型光谱型椭偏仪是多功能薄膜测试系统，适合各种薄膜材料的研究。
SE-1000型椭偏仪在测试的准确性和灵活性与SE-2000保持一致的情况下，配置手动变角测角计与手动移动样品台，为客户提供了一款高性价比的椭偏测试平台。另外，SE-1000型光谱椭偏仪采用了新设计的光学部件以及新版本的测试分析软件，大大提高了设备的运行稳定性和数据处理能力。
与SE-2000平台一样，SE-1000光谱椭偏仪同时也是一个多功能测试平台，采用模块化的设计，可集成FTIR红外光谱测试模组、涡电流法非接触式或4PP接触式方块电阻测试模组、Mueller Matrix各项异性材料测试模组、Raman结晶率测试模组、电子迁移率表征模组、LBIC光诱导电流测试模组、反射干涉测试模组等多种功能，用户可根据测试需求合理选择搭配功能。
产品特点
业界第1家光谱型椭偏仪测试设备厂商
业界标准测试机构定标设备，参与发布中华人民共和国椭圆偏振测试技术标准
针对研发及实验室测试设计，能降低测试成本
模块化设计，可综合监控样品光学和电学特性
定期免费升级SOPRA材料数据库
开放光学模型拟合分析过程，方便用户优化测试菜单
主要应用
业界第1家光谱型椭偏仪测试设备厂商
业界标准测试机构定标设备，参与发布中华人民共和国椭圆偏振测试技术标准
针对研发及实验室测试设计，能降低测试成本
模块化设计，可综合监控样品光学和电学特性
定期免费升级材料数据库
开放光学模型拟合分析过程，方便用户优化测试菜单
主要技术指标
手动变角范围：45°-90°
光谱范围：245-990 nm
更大样品尺寸：200 mm

厚度测量范围：0.01nm-50 um（取决于样品类型）