产品信息

受益于包括光收集或注入模式的多功能系统。揭示样品的特征：成分、结构或缺陷。充分利用具有大收集角度的优化系统。 激发样品以揭示光热激发下的局部行为。

 优点：

• 独立于样品架的镜子，可实现 wan 美和 you 化的对准

• jue 对编码系统，确保 gao 对准精度和再现性（100nm 精度）

• 能够在自由空间或通过光纤注入收集光

 特点：

光收集模式：

• du 特的抛物面收集镜，设计用于安装极靴间隙小至4.5mm；

• 具有亚微米精度的定位系统，用于将镜子与样品 wan 美对齐；

• NA>0.4的高曲率抛物面镜；

• 工作距离减小到300µm，以 zui 大化光收集注入效率；

• 专利不对称光纤，旨在保持亮度和光谱分辨率。

Monch使用了一种非对称光纤，光纤束从圆形到平行于成像光谱仪的入口狭缝重新排列。这使得即使当狭缝展开并 且光斑由于扫描而在狭缝的入口处移动时，也能够保持恒定的光谱分辨率。

光注入模式：

• 对于样品的局部光或热激发，光束尺寸减小到几微米；

• 能够同时进行注入和光收集测量。

STEM兼容性:

• 和大部分的(S)TEM型号兼容 : JEOL, TFS/FEI, Hitachi, Nion VG

• 极靴距离 : zui 小 4.5mm

• PPG平面中有一个可用端口

技术参数

应用领域

• 电子 & 光电子 (GaN, InP, SiC...)

• 光伏电池 (GaAs, CdTe, Perovskites…)

• 发光二极管 (LEDs)

• 2D材料(Graphene, BN, WS2, diamond…)

• 贵金属(plasmonic)

• 光子晶体

• 量子阱 & 量子点

• 矿物、玻璃、陶瓷和宝石

• 无机涂层

• 有机物, 聚合物样品