DX-Hall-200霍尔效应测试系统

DX-Hall-200霍尔效应测试系统是集霍尔效应、磁阻、I-V特性等测试于一体的全自动化测试系统。磁场根据用户需要采用电磁铁， 配备灵巧的测量样品杆，加上全自动化的专用测试软件，能让用户快速方便地进行样品测试，并获得准确可靠的数据。此外、系统还有多种低件，并可以根据用户现有的仪表和对软件的特殊要求进行特殊改造， 是广大科研工作者对样品进行电输运性质研究的有力工具。

主要配置

U.S．Keithley 设备

主要部分

低温部分（选配）

主要特点

1. 使用插样卡片，方便安装。

2. 一种标准配置可以同时测量两个样品，通过添加可选设备可以同时测量4个样品;

3. 电阻测量范围：0.1mΩ-100GΩ（高电压和阻抗系统）

4. 不同的电流和磁场，不同的测试系统和电阻测量

5. 测试和计算过程由软件自动完成，同时马上提供数据和曲线，节省时间。

6. 系统长时间提供高稳定磁场。零磁场可以平滑。

7. 电磁铁电源内置精密高斯计，现场控制速度快

8. 选择低温器件，霍尔效应和电阻测量可以在不同温度下进行

可测量材料

1. 半导体材料：SiGe, SiC, InAs, InGaAs, InP, AlGaAs, HgCdTe和铁氧体材料等

2. 低阻抗材料：石墨烯、金属、透明氧化物、弱磁性半导体材料、TMR材料等

3. 高阻抗材料：半绝缘的GaAs, GaN, CdTe等

主要功能

1. 测量霍尔效应，电阻，I-V曲线和R-T曲线

2. 可测参数：霍尔效应 - 薄层电阻，电阻率，霍尔系数，导电类型，霍尔迁移率，载流子浓度;

3. 磁阻效应：R, △R, (△R/R)%, (△R/R0)%

4. I-V曲线： 不同温度和磁场的I-V曲线

5. R-T曲线：固定磁场，不同温度下，电阻变化曲线

6. R-H曲线：固定温度，不同磁场下，电阻变化曲线

主要技术参数

样品尺寸

1. 小尺寸样品卡：12*12mm²

2. 大尺寸样品卡：50*50mm²

3. 探头样品卡：1*1mm²-20*30mm²

样品测试方法

1. 霍尔效应样品：Si, GaAs等

2. 电阻和I-V样品：4线或6线法

电器性能

在以下典型测试条件下：

采样功耗小于1mV，在此条件下，使励磁达到系统配置中推荐的电流和电压;

采样温度：295k

样品座不漏电流

每个测试引线电阻25Ω

测量电阻率（V_out / V_in）的电压使用效率应为0.1。

样品形状校正因数：1

磁场和样品厚度测试不确定度在1%之内。

磁场/样品厚度为1T/mm， 注意所测的载流子浓度大约比例为此值。所以，更强的磁场和更厚的样品不能提高测试范围。

关于我们

厦门盈德兴磁电科技有限公司成立于2008年，位于中国美丽的鹭岛福建厦门市，也是一个国际海港。盈德兴磁电是一家在国际磁性测量行业拥有完善服务的高科技企业。公司拥有一批经验丰富的磁性测量行业技术人员，并与国内外大学和研究所合作，可以为全球客户提供精密的测量设备系统和良好的售后服务。

公司开发的主要设备和测量系统: 数字特斯拉计/高斯计、磁通计、磁通门计、亥姆霍兹线圈、电磁铁、核磁共振永磁体、精密电流源、锁相放大器、弱磁屏蔽系统、交直流磁场控制系统、新能源表磁测量系统、多维磁场测试系统、永磁材料测量系统、振动样品磁强计等。

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