堆积密度测定仪;粉体特性测试仪;表观密度测定仪;安息角测定仪;粉末电阻率测试...
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主营产品:堆积密度测定仪;粉体特性测试仪;表观密度测定仪;安息角测定仪;粉末电阻率测试...
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FT-371半绝缘类材料双电四探针测试仪
一.概述:
四探针法测试高阻值材料方阻及电阻率,可以测试到10^10Ω方阻值,液晶显示,芯片控制,恒流输出, 四探针双位测量、参考美国 A.S.T.M 标准。中或英文语言版本.
二.适用范围:
覆盖膜;导电高分子膜,高、低温电热膜;隔热、导电窗膜 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸;金属化标签、合金类箔膜;熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层,电阻式、电容式触屏薄膜;电极涂料,其他半导体材料、薄膜材料方阻测试,硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻 半导体材料,晶圆、太阳能电池、电子元器件,导电薄膜(ITO导电膜玻璃等),金属膜,导电漆膜,蒸发铝膜,PCB铜箔膜,EMI涂层等物质的薄层电阻与电阻率 导电性油漆,导电性糊状物,导电性塑料,导电性橡胶,导电性薄膜,金属薄膜, EMI 防护材料,导电性纤维,导电性陶瓷等.
三.参数资料Parameters:
FT-371半绝缘类材料双电四探针测试仪
规格型号 | FT-371A | FT-371C |
1.方块电阻范围 | 10^-4~1×10^7Ω/□ | 10^-4~1×10^10Ω/□ |
2.电阻率范围 | 10^-5~2×10^8Ω-cm | 10^-5~2×10^11Ω-cm |
3.测试电流范围 | 10mA ---200pA | 10mA ---2pA |
4.电流精度 | ±2% | ±5% |
5.电阻精度 | ≤10% | ≤15% |
6.显示读数 | 液晶显示:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率 | |
7.测试方式 | 组合双电测试方法 | |
8.工作电源 | 输入: AC 220V±10%.50Hz功 耗:<30W | |
9.误差 | ≤15% | |
10.选购功能 | 选购1.pc软件; 选购2.方形探头; 选购3.直线形探头; 选购4.测试平台 | |
11.测试探头 | 探针间距选购: 2mm;3mm两种规格; 探针材质选购:碳化钨针、镀金磷铜半球形针 |
FT-371半绝缘类材料双电四探针测试仪
标准配置外订购明细:
序号 | 型号 | 品名 | 单位 | 数量 | 备注 |
1 | 371-CSX | 测试线 | 套 | 1 | |
2 | 09A | 标准电阻 | 个 | 1-5 | 选购规格和数量 |
3 | 06A | 四探针测试平台 | 套 | 1 | 含探头1个 |
4 | 06B | 四探针探头 | 个 | 1 | 直线型 |
5 | 340-TTZ | 镀金弹簧铜针4根 | 组 | 1 | 4根为一组 |
6 | 340-WTZ | 弹簧钨针4根 | 组 | 1 | 4根为一组 |
7 | 340-RJ | 分析软件 | 套 | 1 | |
8 | PC | 电脑+打印机 | 套 | 1 | 依据客户要求配置 |
9 | 300-JL | 检测技术服务 | 份 | 1 | 计量证书1份 |
10 | WDCGQ | 温度传感器 | 套 | 1 | 常温-125度 |
延保服务 | 年 | 1-3 |
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