EDX-8800H MAX XRF Spectrometer

立式X荧光光谱仪

元素分析仪

Simply the Best

>美国AmpTek -FSDD探测器, 高分辨率高计数率

>真空测试环境提供轻元素检测效果

>无损元素分析涵盖11Na to 92U

>适应各种复杂矿物样品测试，固体，液体，合金，粉末和泥浆

>多组合滤光片系统，有效提高微量元素检出限

>坚固的设计适用于于各种复杂而严苛的现场工作环境

EDX8800H MAX能量色散荧光光谱仪-矿产分析

作为一款台式能量色散X射线荧光（EDXRF）元素分析仪，新款EDX8800H MAX配置了基于Windows基本参数算法的FP（Fundamental parameter）软件，同时配备了硬件，来满足客户对于复杂矿石样品的元素分析需求。无论客户的样品是是固体，合金，粉末，液体或者浆液，EDX8800H MAX都可以轻松实现从钠（Na）到铀（U）元素的无损定性和定量分析。更快的分析速度，测试结果，更稳定的仪器性能， 使得EDX8800H MAX成为了客户进行元素分析的工具之一。

ESI英飞思EDX8800H MAX光谱仪主要应用于在采矿过程的所有阶段进行材料元素成分分析。从勘探样品到矿物精矿，从选矿到尾矿，EDX8800H MAX都在苛刻的采矿环境中均具有出色的灵活性，分析性能和稳定性。

EDX8800H MAX专注于对地质材料的主量，微量和痕量元素进行定性和定量分析，其中包括：

•铁矿• 铜矿• 铝土矿•贵金属矿产•稀土矿•原料•磷酸盐•煤炭•铅锌矿•锰矿•镍矿•石灰石•粘土•石膏•玻璃•土壤•水泥•耐火材料及其他等

EDX8800H MAX操作简单，分析性能出色，同时还可拓展到以下应用

>塑胶及有机物：塑料材料PE，PVC，添加剂等元素分析

>石油化工：燃料，润滑油监测，添加剂，磨损金属等中的硫元素分析

>环境：废水，空气污染，土壤和地面，排放控制等

>涂层厚度和薄膜：分析多层涂层，钢涂层，杂质等

>刑侦及公安：证据分析，材料匹配，爆炸物等

>食品，化妆品和药品：添加剂控制，原材料，有害金属，包装材料等

产品特点

作为一款专业为矿产元素分析而设计和生产的光谱仪，EDX-8800H MAX兼顾了耐用性，易于操作和高性价比。其显著优势主要有：

•无需或者很少的样品制备，全程无损分析，一到三分钟即可出结果

•强大的基于Windows的FP（基本参数算法）软件降低了基体效应的影响

•原装进口高功率光管和电制冷的FSDD硅漂移检测器不仅具有出色的短期重复性和长期重

现性，而且具有出色的元素峰分辨率

•能同时进行元素和氧化物成分分析

•多重仪器硬件保护系统，并可通过软件进行全程实时监控, 让仪器工作更稳定、更安全

•特别设计的光路和真空系统大大提高了轻元素(Na, Mg, Al, Si, P）的测试灵敏度和准确性，同时在测试Cd,Pb,Cr,Hg,Br,Cl等其他元素的灵敏度和稳定性都有了明显的提高

•友好的用户界面，可定制的分析报告，可一键打印测试报告，包括分析结果，样品信息，光谱信息和样品图像

•八种光路准直系统，根据不同样品大小自动切换，亦可测试样品不同位置再求平均值，降低样品不均匀性造成的误差

•高清内置摄像头，清晰地显示仪器所检测的样品部位

矿产元素检测专家EDX8800H MAX

功能强大而界面友好的测试软件

界面清晰易用。选择方法并输入样品识别信息后即可开始测量。

软件内核-基本参数法（FP）可轻松分析未知样品。

EDX8800H MAX已在工厂预安装了软件并进行了数据标定，客户运行软件即可立刻开始测试。无需每天重复标定。强大的软件功能还提供了

>一键初始化仪器，基体自动匹配

>自动定性，半定量和定量分析，不同样品测试谱图可实时对比

>光谱处理和校正，去除双倍峰和逃逸峰干扰，降低元素吸收增强效应影响

>光谱背景扣除，有效提高微量元素检测精度

>可实时刷新测量结果

>简单的流程栏向导可帮助用户创建新的自定义标定曲线

>可定制化测试报告，一键打印

铝土矿样品10次测试稳定性报告