PID形成原因

外部原因

PID的真正原因到目前为止没有明确的定论，但Z容易在潮湿的环境下发生，并且活跃程度与潮湿程度相关；同时组件表面被导电性、酸性、碱性以及带有离子的物体的污染程度，也与PID现象的发生有关。据推测，来自于钠钙玻璃的金属离子是形成上述具有PID效应的漏电流的主要载流介质。

内部原因

系统方面

逆变器接地方式和组件在阵列中的位置，决定了电池片和组件受到正偏压或者负偏压。电站实际运行情况和研究结果表明：如果整列中间一块组件和逆变器负极输出端之间的所有组件处于负偏压下，则越靠近输出端组件的PID现象越明显。而在中间一块组件和逆变器正极输出端中间的所有组件处于正偏压下，PID现象不明显。

组件方面

环境条件，如湿度等的影响导致了漏电流的产生。

电池方面

电池片由于参杂不均匀导致方块电阻不均匀；优化电池效率而采用的增加方块电阻会使电池片更容易衰减，导致容易发生PID效应。

PID测试仪器组成

测试所需主要仪器为：

步入式环境测试箱；

绝缘耐压测试仪；

接地连续性测试仪；

PID测试直流电压源（数字源表）；

HALM太阳模拟器（AAA+级）；

EL测试仪等。

PID测试的标准

PID 测试标准引自 IEC 62804 （Draft）

根据IEC61730-2 MST  01进行外观检测；

根据IEC61215 D二版进行Z大功率测试

根据IEC61215 D二版条目10.15进行湿漏电流测试；

如果组件有裸露的导电部位，则要根据IEC61730-2 MST13进行接地连续性测试。

测试所需电源需求

电源电压：-1500V～0V/ 0～+1500V

电源时漂：≤0.3%/h

电源温漂：≤0.5‰/℃

电源纹波：≤0.5%

电流范围：1～1000 uA /-1000 uA～-1

试验时间：0～168h

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