多路大功率激光器老化测试系统简介

普赛斯多路大功率激光器老化系统是专为解决千瓦级大功率半导体激光器芯片及泵浦激光器模块需要使用窄脉冲大电流测试和老化、芯片发热严重等问题而创新开发推出的一套通用性好、大功率、循环水冷的老化测试系统。产品具有大电流窄脉冲恒流特性好、电流稳定、抗干扰能力强，并具有防过冲、防反冲、抗浪涌的稳压及恒流的双重保护电路等功能，为大功率半导体激光器芯片及泵浦激光器模块的老化测试提供了一个完整的解决方案，详询一八一四零六六三四七六；器件装载使用抽屉式结构，设备可以灵活扩展Z高至4层结构，每层设计若干路，每路支持1-16只激光器的串联老化。普赛斯多路大功率激光器老化系统采用全新开发、自主设计的大电流脉冲恒流源，可以完美兼容CW模式以及QCW模式，支持直流恒流、直流扫描、脉冲直流、脉冲扫描等四种模式。该系统包括高温环境控制装置、直流或脉冲驱动电源、收光装置、光纤、光谱仪（选配）、循环水冷系统、定制夹具、温度采集器及上位机等。实现上位机程序进行自动测试，自动采集半导体激光器驱动电流、激光器电压、激光器光功率、环境温度。实现多单元、高笑率、自动监控并记录上传测试数据的一体化测试系统。      

产品特点

单抽屉Z多支持16路8抽屉；

各通道互相独立；

电流回读，同步自动测量电压、光功率等数据；

加热膜加热，温控范围：室温～125℃；

电源抗浪涌设计；

收光装置水冷；

精度±1℃，不同DUT温度均匀性±2℃；

老化数据自动记录与数据导出；

技术参数

多路大功率激光器老化测试系统应用

大功率LED的LIV测试及产线批量老化大功率激光器的LIV测试及产线批量老化大功率半导体激光器芯片及泵浦激光器模块的稳定性及可靠性测试